세계 최고의 표면 단차 계측기

DEKTAK XT


DektakXT는 지난 40년간 독점적 기술 발전을 통하여 진화해 왔으며, 최초의 single-arch 디자인 채택, 

true-color HD 광학카메라 장착, 64비트 병렬처리 구조 적용등을 통해 다양한 표면에서 정확한 측정을 가능하게 합니다.

DektakXT는 나노미터 단위의 표면 단차 측정 기술을 통해 전자 공학, 반도체, 태양광 산업 등의 발전에 기여하고 있으며 최고의 성능과 사용 편의성으로 연구개발에서 품질관리에 이르기까지 모든 과정을 더욱 잘 모니터할 수 있게 도와드립니다.

최적의 300mm 성능을위한 게이지 가능 QA / QC 프로파일러 

DEKTAK XTL 


Dektak XTL 스타일러스 프로파일 러는 광범위한 응용 분야에 매우 정확하고 반복 가능하며 재현 가능한 계측 기능을 제공합니다. 최대 350mm x 350mm의 시료를 수용 할 수있는이 시스템은 마침내 전설적인 Dektak 성능을 200mm 및 300mm 웨이퍼 제조에 제공합니다. 

Dektak XTL은 인터 로킹 도어와 통합 된 격리 기능을 갖추고있어 오늘날의 까다로운 생산 현장 환경에 이상적입니다. 듀얼 카메라 아키텍처는 공간 인식을 향상시키고 자동화 수준은 제조 처리량을 향상시킵니다.